徠卡DCM8光學表面測量系統(tǒng)采用了新的非接觸式三維光學表面測量技術(shù)。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術(shù)確保用戶實現(xiàn)超快速的分析操作。

高精確度和可重復性

您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌。通過徠卡Leica DCM8光學表面測量系統(tǒng)高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?

可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則LeicaDCM8光學表面測量系統(tǒng)可提供明視場模式和暗視場模式。

快速捕捉表面數(shù)據(jù)

 徠卡DCM8光學表面測量系統(tǒng)采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術(shù)。由于傳感器頭部未使用運動部件，因此設備能夠?qū)崿F(xiàn)快速和可重現(xiàn)的捕捉數(shù)據(jù)。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區(qū)域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。

迅速匹配您的樣本

徠卡Leica DCM8光學表面測量系統(tǒng)進行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質(zhì)物鏡。對于大尺寸樣本來說，從我們的可調(diào)整鏡筒和電動載物臺系列中進行選擇。除此之外系統(tǒng)還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。

能夠有效地對結(jié)構(gòu)進行分析

友好的LeicaSCAN軟件能夠控制 徠卡DCM8光學表面測量系統(tǒng)。配方方案，多樣本和統(tǒng)計分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執(zhí)行更為復雜的三維測量任務?那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統(tǒng)的測量功能。

獲取高質(zhì)量的圖像

徠卡Leica DCM8光學表面測量系統(tǒng)通過將性能的光學元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍色和白色LED光源相結(jié)合，徠卡Leica DCM8光學表面測量系統(tǒng)能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續(xù)性，能夠確保每個像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結(jié)果就是能夠為您的樣本提供水晶版清晰透徹的圖像。

目前和將來都夠獲取非常可靠的結(jié)果

高清微顯示掃描技術(shù)未配置任何運動部件，CCD攝像頭和4個LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創(chuàng)新性設計能夠?qū)崿F(xiàn)快速、可復制且無噪聲的圖像結(jié)果。值得一提的是，設備還具有較高的耐久性，實際上在較長的使用壽命期限內(nèi)設備幾乎不需要任何維護操作。

材料性能優(yōu)化

不管您是用于生產(chǎn)用途還是研究用途，徠卡Leica DCM8光學表面測量系統(tǒng)均能夠提供您所需要的精確、且可重復的測量分析結(jié)果，以便實現(xiàn)材料性能的優(yōu)化。